ЩОДО ПЕРВИННОЇ ВЕРИФІКАЦІЇ КРИСТАЛІЧНИХ СТРУКТУР СІМЕЙСТВА АРГІРОДИТІВ

Анотація

Для кристалічних структур фаз, що належать до науково й технологічно важливого сімейства аргіродитів загальної хімічної формули A^m+_{(12–n–x)/m}Bⁿ⁺X^2–_6–xY^–_x (де A = Li⁺; Cu⁺, Ag⁺, Cd²⁺, Hg²⁺…; B = Ga³⁺, Si⁴⁺, Ge⁴⁺, Sn⁴⁺, P⁵⁺, As⁵⁺…; X = O^2–; S^2–, Se^2–, Te^2–; Y = Cl^–, Br^–, I^–; 0 ≤ x ≤ 1), характерні висока мобільність та розупорядкування катіонної підґратки A. Така особливість аргіродитів робить їх перспективними твердотільними іонними провідниками, однак значно ускладнює рентгеноструктурний аналіз аргіродитних фаз через неможливість надійно спрогнозувати позиції іонів A в елементарній комірці кристалічної структури конкретного аргіродитного зразка та ступені заповнення цих позицій.

Аналіз опублікованих структур аргіродитів виявив, що позиції типових катіонів B та їх ліґандів X у тетраедричному оточенні [BX₄] повністю заселені відповідними іонами, що робить можливим первинну верифікацію вже опублікованих в науковій літературі чи нових одержаних структурних моделей аргіродитних фаз в рамках моделі зв’язкової валентності (МЗВ) – шляхом розрахунку сум зв’язкових валентностей для катіонів B з міжатомних відстаней d_BX в тетраедрах [BX₄]. Окрім проведення первинної верифікації структурних моделей аргіродитних фаз, використання МЗВ і рекомендованих у роботі числових параметрів дозволяє створювати надійні стартові часткові структурні моделі аргіродитних фаз для подальшого їх уточнення методами рентгеноструктурного аналізу, а також стабілізувати процес уточнення кристалічної структури шляхом накладання нестрогих обмежень на відхилення розрахованих міжатомних відстаней d_BX всередині тетраедрів [BX₄] від прогнозованих відстаней.